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設(shè)備名稱
芯片封測(cè)熱翹曲測(cè)量設(shè)備
設(shè)備參數(shù)
設(shè)備優(yōu)勢(shì)
1.設(shè)備測(cè)試精度可達(dá)百納米級(jí),滿足了客戶對(duì)翹曲測(cè)試監(jiān)控的要求,是國(guó)際主流并被JEDEC, JEITA等標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試方法。
2.全視場(chǎng)單次成像,無(wú)需繁瑣移動(dòng)平臺(tái)及相機(jī)。
3.產(chǎn)品應(yīng)用范圍**:晶圓,PCB(包含HDI板),芯片,IGBT,SMT生產(chǎn)分析以及研發(fā)等。
4.可選配紅外加熱模塊。
5.軟件操作簡(jiǎn)介明了,無(wú)需繁瑣配置。
設(shè)備名稱
芯片封測(cè)熱翹曲測(cè)量設(shè)備
設(shè)備參數(shù)
設(shè)備優(yōu)勢(shì)
1.設(shè)備測(cè)試精度可達(dá)百納米級(jí),滿足了客戶對(duì)翹曲測(cè)試監(jiān)控的要求,是國(guó)際主流并被JEDEC, JEITA等標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試方法。
2.全視場(chǎng)單次成像,無(wú)需繁瑣移動(dòng)平臺(tái)及相機(jī)。
3.產(chǎn)品應(yīng)用范圍**:晶圓,PCB(包含HDI板),芯片,IGBT,SMT生產(chǎn)分析以及研發(fā)等。
4.可選配紅外加熱模塊。
5.軟件操作簡(jiǎn)介明了,無(wú)需繁瑣配置。