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設(shè)備名稱(chēng)
線(xiàn)路板行業(yè)在線(xiàn)翹曲測(cè)量
設(shè)備參數(shù)
設(shè)備優(yōu)勢(shì)
1.設(shè)備測(cè)試精度可達(dá)百納米級(jí),滿(mǎn)足了客戶(hù)對(duì)翹曲測(cè)試監(jiān)控的要求,是國(guó)際主流并被JEDEC, JEITA等標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試方法。
2.利用光學(xué)技術(shù)進(jìn)行翹曲量測(cè),捕捉計(jì)算時(shí)間小于10秒。
3.全視場(chǎng)單次成像,無(wú)需繁瑣移動(dòng)平臺(tái)及相機(jī)。
4.產(chǎn)品應(yīng)用范圍**:晶圓,PCB(包含HDI板),芯片,IGBT,SMT生產(chǎn)分析以及研發(fā)等。
5.可選配紅外加熱模塊。
6.軟件操作簡(jiǎn)介明了,無(wú)需繁瑣配置。
設(shè)備名稱(chēng)
線(xiàn)路板行業(yè)在線(xiàn)翹曲測(cè)量
設(shè)備參數(shù)
設(shè)備優(yōu)勢(shì)
1.設(shè)備測(cè)試精度可達(dá)百納米級(jí),滿(mǎn)足了客戶(hù)對(duì)翹曲測(cè)試監(jiān)控的要求,是國(guó)際主流并被JEDEC, JEITA等標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試方法。
2.利用光學(xué)技術(shù)進(jìn)行翹曲量測(cè),捕捉計(jì)算時(shí)間小于10秒。
3.全視場(chǎng)單次成像,無(wú)需繁瑣移動(dòng)平臺(tái)及相機(jī)。
4.產(chǎn)品應(yīng)用范圍**:晶圓,PCB(包含HDI板),芯片,IGBT,SMT生產(chǎn)分析以及研發(fā)等。
5.可選配紅外加熱模塊。
6.軟件操作簡(jiǎn)介明了,無(wú)需繁瑣配置。